Để đánh giá tình trạng củaCánh tắt thanh hỗ trợThông qua thử nghiệm điện trở cách nhiệt, một megohmmeter điện áp cao chủ yếu được sử dụng để áp dụng điện áp DC và đo điện trở cách điện. Khi thanh đệm hỗ trợ tuổi, do sự tích tụ ô nhiễm bề mặt, các vết nứt xuyên lỗ bên trong hoặc độ ẩm, cả điện trở thể tích và bề mặt của chúng đều giảm đáng kể. Kết quả kiểm tra dưới đây được chỉ định là điểm chuẩn lịch sử hoặc ngưỡng tiêu chuẩn (ví dụ: dưới 100 MΩ, thường được coi là ngưỡng cảnh báo) cho thấy sự suy giảm trong hiệu suất cách nhiệt hỗ trợ, với khả năng các kênh cacbon hóa hình thành, gây ra nguy cơ suy giảm hoặc phá vỡ qua lỗ. Nhiệt độ và độ ẩm của môi trường thử nghiệm phải được hiệu chỉnh và so sánh ngang với các hỗ trợ thanh tương tự hữu ích hơn trong việc đánh giá mức độ lão hóa.
Phân tích tổn thất điện môi tập trung vào việc đánh giá các đặc điểm mất điện môi củaCánh tắt thanh hỗ trợdưới các trường AC điện áp cao. Đo tiếp tuyến mất điện môi (TANδ) bằng cách sử dụng mạch cầu chính xác có thể phản ánh một cách nhạy cảm sự suy giảm của vật liệu cách điện và bất kỳ khiếm khuyết nội bộ nào. Khi một thanh cắt thiết bị hỗ trợ độ tuổi (ví dụ: do sự phân tách độ ẩm, xả khe hở không khí hoặc nứt ma trận nhựa trong vật liệu cách nhiệt), sự phân cực điện môi và tổn thất dẫn điện của nó tăng lên, dẫn đến giá trị tan spncormally. Đường cong tổn thất với điện áp thử nghiệm tăng cũng thay đổi (ví dụ: điểm uốn riêng biệt xuất hiện). Phương pháp không phá hủy này đặc biệt lão luyện trong việc phát hiện ra địa phương hóa, nhưng tích cực phát triển, xuống cấp trong hỗ trợ thanh.
Kết hợp hai phương pháp này cung cấp chẩn đoán toàn diện hơn vềHỗ trợ thanh thiết bị đóng cắtSuy thoái. Thử nghiệm kháng điện rất nhạy cảm với các khiếm khuyết thâm nhập và độ ẩm nghiêm trọng, trong khi phân tích mất điện môi nhạy cảm hơn với sự suy giảm vật liệu sớm, khuếch tán và các hiệu ứng phân cực giao thoa. Sự giảm đáng kể tính kháng điện của hỗ trợ thanh đóng cắt, kèm theo sự gia tăng quá mức trong mất điện môi hoặc mô hình quang phổ bất thường, đặc biệt là ở điện áp cao, chỉ ra rằng cấu trúc cách nhiệt đã đi vào giai đoạn lão hóa tăng tốc hoặc phải đối mặt với các nguy cơ nghiêm trọng, cần phải duy trì kịp thời hoặc thay thế. Hai phương pháp này tạo thành một cơ chế chẩn đoán hợp tác quan trọng cho điều kiện cách nhiệt của hỗ trợ thanh.
